Pomiary wielkości mechanicznych.pdf

(493 KB) Pobierz
Pomiar wielkości mechanicznych
Pomiary wielkości mechanicznych
Dr inż. Maciej TABASZEWSKI
Pok. 311
Tel. 665 23 90
Kons. Pn. 11.15 –11.45
Wykład opracowano na podstawie:
1.Ryszard Hagel, Jan Zakrzewski, Miernictwo dynamiczne, WNT
Warszawa 1984
2.Waldemar Nawrocki, Komputerowe systemy pomiarowe, WKŁ
Warszawa 2002
3. Janusz Piotrowski, Podstawy miernictwa, WNT Warszawa 2002
4. Janusz Szafran, Andrzej Wiszniewski, Algorytmy pomiarowe i
decyzyjne cyfrowej automatyki elektroenergetycznej, WNT
Warszawa 2001
5. Bodo Heiman i inni, Mechatronika. Komponenty, metody,
przykłady, PWN Warszawa 2001
6. Digital Filter vs FFT for Damping Measurements, Technical
Review No 1/1994
7. Dual Channel FFT Analisis (part I), Technical Review No 1/1984
8. Structural Dynamic Modifications, Technical Review No 1/1988
9. Inne materiały firmy Bruel and Kjear
WSTĘP [3]
Pomiar – czynności, po wykonaniu których możemy
stwierdzić, że w chwili pomiaru dokonanego w określonych
warunkach, przy zastosowaniu określonych środków i
wykonaniu odpowiednich czynności wielkość mierzona x
miała wartość:
a
x
b
Stwierdzenie, że wielkość x jest nie mniejsza niż a i
równocześnie nie większa niż b , nazywamy wynikiem
pomiaru.
W pomiarze biorą udział dwa zbiory wielkości:
zbiór X wielkości mierzonej x oraz zbiór W wielkości znanej w
którego elementy są uporządkowane według wartości i
oznaczone wskaźnikiem i .
Wielkość mierzona stanowi skończony lub nieskończony
zbiór. Zbiór W jest zbiorem skończonym, którego kolejne
elementy w i , w i+1 różnią się między sobą o wartość:
w
+
w
i
=
2
ε
>
0
Zbiór W jest utworzony przez wielkość wzorcową odtwarzaną
w czasie pomiaru przez przyrząd pomiarowy. Czynności
pomiarowe są równoważne z przyporządkowaniem
elementowi x ze zbioru X elementu ze zbioru W o tej samej
wartości. Ponieważ zbiór W jest dyskretny przyporządkowanie
to nie może być jednoznaczne.
i
1
[3]
2 ε , odtwarzane przez przyrządy pomiarowe o
różnych własnościach metrologicznych, ale nie istnieje zbiór o
wartości 0
0
ε (podstawowy postulat metrologii).
Przyczyną jest ograniczona doskonałość naszych zmysłów,
narzędzi stosowanych do pomiaru, jak i kwantowej
właściwości przyrody.
Mogą istnieć zbiory W tej samej wielkości o różnych
wartościach
87940006.001.png
Wielkość mierzalna – określona cecha obiektu
fizycznego (przedmiotu lub zjawiska), która może być
odwzorowana w dowolnej z przyjętych w metrologii
skal za pomocą liczb lub innych symboli abstrakcyjnych
(np. siła, przemieszczenie, naprężenie, prędkość drgań
itp.).
Wielkość mierzona – nazywa się określoną wielkość
fizyczną podlegającą pomiarowi (czyli której wartość
chcemy określić), występującą w określonych
warunkach fizycznych. Określając wielkość mierzoną
nie wystarczy podać jej rodzaj, lecz należy sprecyzować
jej miejsce i warunki występowania oraz związki
czasowe wielkości mierzonej z obiektem pomiarowym
(np. chwilowa, średnia, czy skuteczna wartość
przebiegu okresowego, maksymalna wartość mocy w
przedziale 15 minut, prędkość szczytowa drgań
bezwzględnych w paśmie od 100 – 1000 Hz na łożysku
zewnętrznym w kierunku poziomym) .
Pomiary statyczne i dynamiczne – podstawą do
rozróżnienia jest zmienność czasowa wielkości
mierzonej. Jeżeli wielkość mierzona nie zmienia się w
czasie pomiaru lub zmienia się w granicach mniejszych
od niedokładności pomiaru to pomiar nazywa się
pomiarem statycznym. Jeżeli wielkość mierzona
zmienia się w czasie pomiaru to pomiar jest
dynamiczny .
Zgłoś jeśli naruszono regulamin