Urządzenia do pomiaru konturu i chropowatości powierzchni Carl Zeiss.pdf

MECHANIK NR 4/2006

319

Artykuł promocyjny

Carl Zeiss dostawcą urządzeń do pomiaru

odchyłek kształtu, konturu i chropowatości powierzchni

Carl Zeiss, znany producent współrzędnościowych maszyn pomiarowych, rozszerzył swoją ofertę o urządzenia do

pomiaru odchyłek kształtu, konturu i chropowatości powierzchni. Grupa produktów, nazywanych dalej Zeiss SF & G

( Zeiss Surface Finished and Geometry ) obejmuje:

profilometry ręczne (warsztatowe);

profilometry i konturografy laboratoryjne;

formtestery.

Urządzenia do pomiaru konturu i chropowatości powierzchni

URZĄDZENIA WARSZTATOWE

Handysurf 35 to przenośne urządzenie pozwalające mierzyć chropowatość

powierzchni w miejscu powstawania części. Kompaktowa budowa i możliwość od-

łączenia mechanizmu posuwowego od obudowy (połączonego przewodem), stoso-

wane w wersji podstawowej lub z dodatkowymi akcesoriami, gwarantują wysoką

elastyczność pomiarów. Możliwość współpracy z drukarką termiczną, wbudowana

pamięć wyników pomiarów i ich późniejsza obróbka na PC pozwalają na bardzo łatwe

dokumentowanie uzyskanych danych pomiarowych.

Handysurf 35

Surfcom 130

osobistego konfigurowania wyświetlanych ikon na kolorowym

lub monochromatycznym wyświetlaczu, zintegrowana drukarka

oraz możliwość dodawania prostych rysunków – to cechy wyró-

żniające Surfcom 130. Nie do przecenienia jest też możliwość

pomiaru na długości 50 mm i najniższa w swojej klasie odchyłka

prostoliniowości wynosząca 0,3 µ m/50 mm.

URZĄDZENIA LABORATORYJNE

Wszystkie urządzenia laboratoryjne Zeiss SF & G do pomia-

ru konturu i chropowatości powierzchni, dzięki modułowej

budowie, są łatwe w stosowaniu. Składają się one z granitowej

podstawy, kolumny i układu napędowego (długość pomiarowa:

100 mm – standard, 200 mm – opcja). Opatentowana techno-

logia napędów liniowych eliminuje drgania powodowane przez

silnik, przekładnie i wrzeciono napędowe. Pozwala to osiągnąć

maksymalne dokładności pomiarów z bardzo wysokimi pręd-

kościami przesuwu.

Contourecord 1700

Surfcom 2000

Systemy mogą być wyposażone w układy ramię – końcówka

do pomiaru konturu lub chropowatości lub też doposażone,

w zależności od zmieniających się potrzeb. Mogą być również

wyposażone w stoliki umożliwiające przesuw w osi Y , czy też

obrót w płaszczyznach XY i ZX .

Do analizy wyników pomiarów uzyskiwanych za pomocą urzą-

dzeń Zeiss SF & G stosowane jest oprogramowanie TIMS. Jego

koncepcja wykorzystuje możliwość oceny odchyłek kształtu, kon-

turu i chropowatości powierzchni w ramach jednej platformy, co

umożliwia wykorzystanie danych, np. z analizy odchyłek kształtu

lub chropowatości bezpośrednio do analizy pomiaru konturu.

Surfcom 130 to zaprojektowane do stosowania w warunkach produkcyjnych

urządzenie do pomiaru chropowatości i falistości powierzchni. Łatwy dostęp do 34

parametrów analizy chropowatości powierzchni i 24 parametrów falistości, możliwość

320

MECHANIK NR 4/2006

Program TIMS zawiera wszystkie standardowe parametry wymagane

przez normy ISO, DIN, CNOMO, ASME i JIS, jak również opcjonalne

metody analizy.

Rodzina urządzeń Surfcom obejmuje:

Surfcom 1500 – urządzenia do pomiaru chropowatości powierzchni;

Contourecord 1700/2700 – urządzenia do pomiaru konturu;

Surfcom 1900/2900 – urządzenia do pomiaru konturu i chropowato-

ści powierzchni z wykorzystaniem tego samego napędu (wymaga wy-

miany głowicy pomiarowej: kontur – chropowatość powierzchni i odwrot-

nie);

Surfcom 5000 – referencyjne urządzenia do równoczesnego pomia-

ru konturu i chropowatości powierzchni.

Surfcom 1900

Surfcom 5000

W celu automatyzacji cyklu pomiarowego urzą-

dzenia Contourecord i Surfcom mogą być wyposa-

żone (w zależności od potrzeb) w stół przesuwny

w osi Y i dwa stoły obrotowe w płaszczyznach XY

i ZX .

Urządzenia Zeiss SF & G umożliwiają również

pomiary topografii powierzchni 3DF. Do tego celu

służy stół przesuwny Y lub też specjalny napęd

dodatkowy (napęd Y ) umieszczany bezpośrednio

na napędzie podstawowym.

Pomiar z wykorzystaniem stołu przesuwnego Y i obrotowego ZX

Pomiar topografii 3DF z zastosowaniem dodatkowego napędu Y

Urządzenia do pomiaru odchyłek kształtu

Kluczowym elementem w każdym urządzeniu do pomiaru odchyłek kształtu jest stół obrotowy, który w znaczący

sposób wpływa na precyzję pomiarów. Stoły obrotowe w urządzeniach Zeiss SF&G są wyposażone w łożyska

pneumatyczne i osiągają dokładność pozycjonowania do 0,02 µ m.

Wysoka dokładność wykonania stołu obrotowego oraz prowadnic pozostałych osi pomiarowych pozwala sprostać

wszystkim wymaganiom dokładnościowym stawianym urządzeniom do pomiaru odchyłek kształtu.

Surfcom 2000 – urządzenia do równoczesnego pomiaru konturu

i chropowatości powierzchni;

MECHANIK NR 4/2006

321

Rondcom 41: kompaktowe urządzenie z ręcznym, wspomaganym przez oprogramowanie pozycjonowaniem

mierzonej części;

Rondcom 44/54: wysokiej dokładności system z szerokim zakresem zastosowań i możliwością łatwej rozbudowy

do pełnej wersji CNC;

Rondcom 47/55: wysokiej dokładności system z ręcznym lub sterowanym CNC stołem obrotowym, do mierzenia

części o większych gabarytach;

Rondcom 60: urządzenie referencyjne do pomiarów wymagających najwyższych dokładności;

Rondcom 72/75: wysokiej dokładności system z obrotowym ramieniem pomiarowym do pomiaru dużych

i ciężkich części.

Wszystkie urządzenia RONDCOM mają uniwersalną budowę. Mogą być one wyposażone w ręczne lub w pełni

sterowane numerycznie stoły obrotowe. W przypadku Rondcom 44 istnieje możliwość późniejszej rozbudowy stołu

obrotowego z wersji manualnej do CNC. Zmiana taka jest bardzo łatwa do wykonania przez nasz serwis u klienta. Co

więcej, Rondcom 54, 55 i 60 mogą być wyposażone w sterowany CNC uchwyt głowicy pomiarowej, umożliwiający

w pełni automatyczny cykl pomiarowy.

W celu sprostania różnorodnym wymaganiom pomiarowym urządzenia te mogą być dostarczane z kolumnami Z

o różnej wysokości i ze stołami o podwyższonej obciążalności.

Rondcom 44/54

Rondcom 72

Do oceny danych pomiarowych wykorzystywany jest program TIMS, ten sam który służy do oceny konturu

i chropowatości powierzchni. Typowymi, dostępnymi funkcjami programu są biegunowe i liniowe tolerancje odchyłek

kształtu (według DIN ISO 1101), takie jak obliczanie odchyłek okrągłości, płaskości, walcowości, współosiowości

czy prostopadłości.

Rondcom 41

Analizy odchyłek kształtu oparte na TIMS pozwalają na specjalistyczną

ocenę parametrów kół zębatych, tłoków, ocenę statystyczną uzyskanych

pomiarów, analizę Fouriera itp.

Carl Zeiss Sp. z o.o.

Przemysłowa

Technika Pomiarowa

ul. św. Andrzeja Boboli 8/4

02-525 Warszawa

tel. 022 881 02 49, -50

fax 022 848 23 53

e-mail: imt@zeiss.pl

www.zeiss.pl

www.zeiss.de/imt

Dokładności osiągane przez urządzenia Zeiss SF & G, ich modułowa budo-

wa (a co za tym idzie łatwość rozbudowy systemów), sposób prezentacji

i przetwarzania danych pomiarowych sprawiają, że jesteśmy w stanie za-

proponować rozwiązanie niemalże każdego problemu pomiarowego w za-

kresie pomiarów konturu, chropowatości powierzchni i odchyłek kształtu.

A wszystko to po bardzo atrakcyjnych i konkurencyjnych cenach. Sprawdź nas!

W skład rodziny urządzeń do pomiaru odchyłek kształtu wchodzą:

Plik z chomika:

Inne pliki z tego folderu:

Inne foldery tego chomika: