Kurs_V10.pdf

(261 KB) Pobierz
32705370 UNPDF
K U R S
Niezbędnik dla amatorów i profesjonalistów
W głośnikowym żywiole, część 10
Obudowy bass-reflex, część 2
Przedstawiamy drugą część artykułu poświęconego obudowom
bas-relex. Autor zajął się w niej przede wszystkim zjawiskami
falowymi, jakie występują w obudowach tego typu.
ponadto zwiększenie stromości zbocza
pogarsza charakterystyki impulsowe.
Lepszym sposobem jest iltrowanie
aktywne, stosowane w subwooferach
aktywnych – tam, ze względu na
charakter sygnału, niosącego bardzo
silne impulsy bardzo niskich często-
tliwości, jest ono konieczne. Jednak
w większości zespołów głośnikowych
iltrowanie „subsoniczne” nie jest
stosowane. Bezpieczeństwo głośnika
możemy starać się poprawić poprzez
odpowiednią pozycję częstotliwości
rezonansowej obudowy – nie za wy-
soką, aby nie pozostawić zbyt dużego
niebezpiecznego zakresu poniżej, ani
też nie za niską – aby nie pozbawić
głośnika odciążania w użytecznym
zakresie. Niestety, przy ustalaniu czę-
stotliwości rezonansowej nie możemy
kierować się przede wszystkim tym
aspektem – musimy również dbać
o charakterystykę impulsową i cha-
rakterystykę przetwarzania.
Zanim jednak zaczniemy się tej
sztuki uczyć, dokończmy opis dzia-
łania bas-releksu. Nie wytłumaczy-
liśmy jeszcze, co się dzieje powyżej
częstotliwości rezonansowej. Układ
rezonansowy obudowy przestaje dzia-
łać, promieniowanie otworu maleje.
Należy na to zwrócić uwagę – o ile
przy zejściu poniżej częstotliwości
rezonansowej obudowy otwór nadal
promieniował (w fazie niemal prze-
ciwnej do przedniej strony membra-
ny, co powodowało znoszenie się
ciśnień), to przejście powyżej czę-
stotliwości rezonansowej powoduje
„zamykanie” się otworu na fale po-
wstające w obudowie – układ rezo-
nansowy obudowy ma sam w sobie
właściwość iltru dolnoprzepustowego
drugiego rzędu (12dB/okt.), nie prze-
nosi na zewnątrz częstotliwości wyż-
szych od częstotliwości rezonansowej,
a niższe tak. Kształt charakterystyki
ciśnienia z otworu przypomina jed-
nak działanie iltru pasmowo-przepu-
stowego, mając podobnie nachylone
zbocza poniżej i powyżej częstotliwo-
ści rezonansowej, ponieważ poniżej
częstotliwości rezonansowej ciśnienie
Zjawiska fazowe
– w nich tkwi tajemnica
Do możliwie niskiego strojenia
skłania pewne przykre zjawisko
– poniżej częstotliwości rezonansowej
obudowy, charakterystyka przetwarza-
nia zaczyna szybko opadać, jej na-
chylenie dąży do 24dB/okt. Dokładny
kształt charakterystyki zależy jednak
od konkretnego głośnika i sposobu
strojenia, czasami w okolicy częstotli-
wości rezonansowej widać gwałtowne
załamanie charakterystyki („kolano”),
albo tylko delikatne zaokrąglenie,
a charakterystyka zwiększa stromość
powoli. Faktem jest jednak, że o ile
w zakresie częstotliwości rezonanso-
wej obudowy i powyżej system bas-
releks zapewni wyżej leżącą charak-
terystykę przetwarzania w porówna-
niu do tego samego głośnika w takiej
samej wielkości obudowy zamkniętej,
to niedaleko poniżej częstotliwości
rezonansowej charakterystyka systemu
bas-releks spadnie poniżej poziomu
z systemu zamkniętego. Mówimy tu-
taj o charakterystyce wypadkowej ca-
łego systemu bas-releks, czyli sumy
ciśnień z głośnika i otworu. Dlaczego
tak się dzieje? Mierząc charaktery-
stykę z samego głośnika, lub cha-
rakterystykę z samego otworu, wcale
nie stwierdzilibyśmy takiej różnicy
na niekorzyść bas-releksu. Jednak
poniżej częstotliwości rezonansowej
obudowy, układ zachowuje się tak,
jak tego obawialiśmy się na samym
początku opisu bas-releksu – otwór
promieniuje ciśnienie przeniesione
jakby bezpośrednio od tylnej strony
membrany, czyli pozostające w prze-
ciwfazie do promieniowania przedniej
strony membrany. Efekt ten nie nastę-
puje skokowo, stąd ciśnienie wypadko-
we nie przyjmuje gwałtownie wartości
zerowej. Po pierwsze, charakterystyka
ciśnienia z głośnika musi najpierw
„wyjść z dołka”, w jakim była przy
częstotliwości rezonansowej obudowy.
Po drugie, przy częstotliwości rezonan-
sowej obudowy, przesunięcie fazowe
między promieniowaniem przedniej
strony membrany (bardzo niewielkim)
a promieniowaniem otworu wynosi
90 o . Wraz z opuszczaniem rejonu czę-
stotliwości rezonansowej w kierunku
częstotliwości niższych, przesunięcie
to szybko się zwiększa, dążąc do nie-
korzystnej wartości 180 o , ale nie osią-
ga takiej wartości natychmiast.
Inny problem leżący w zakresie
poniżej częstotliwości rezonanso-
wej dotyczy wytrzymałości głośnika.
O ile w zakresie częstotliwości re-
zonansowej obudowy cieszyliśmy się
z radykalnego odciążenia głośnika od
dużych amplitud, i tutaj system bas-
releks miał przewagę nad obudową
zamkniętą, która takiego zjawiska
przecież nie wywołuje, to daleko
poniżej częstotliwości rezonansowej,
głośnik w obudowie z otworem
w ogóle „nie widzi” obudowy, i za-
chowuje się tak, jakby był swobodnie
zawieszony – czyli jest narażony na
największe możliwe amplitudy. Co
szczególnie przykre, są one zupełnie
bezproduktywne, z powodu znoszenia
się ciśnień z głośnika i z otworu.
Niektórzy konstruktorzy (zwłaszcza
niemieccy producenci), stosują tutaj
rozwiązania radykalne – iltrowanie
(bierne) górno przepustowe głośnika
niskotonowego, ustawione tak, że
tłumione są częstotliwości niższe od
efektywnie przetwarzanych, a więc
leżące poniżej częstotliwości rezo-
nansowej obudowy. Sposób ten ma
jednak swoje wady – iltrowanie
bierne reaguje z silnie zmieniającą
się w zakresie niskich częstotliwości
impedancją (chyba, że została zline-
aryzowana dodatkowymi obwodami),
i kształt charakterystyki iltru daleko
odbiega od założonych 6 czy 12dB/
okt., ingerując w pasmo użyteczne,
64
Elektronika Praktyczna 8/2004
32705370.010.png 32705370.011.png 32705370.012.png
K U R S
z otworu jest odpowiedzią na cha-
rakterystykę głośnika, która... opada
z nachyleniem bliskim 12dB/okt (na-
chylenie charakterystyki wypadkowej
dążące do 24dB/okt. powstaje w efek-
cie odejmowania się promieniowania
przedniej strony membrany i otworu).
Wracając do zakresu powyżej często-
tliwości rezonansowej – otwór prze-
staje promieniować, ale szybko wraca
do gry sam głośnik. Niedaleko powy-
żej częstotliwości rezonansowej krzy-
we charakterystyk głośnika i otworu
przecinają się. W okolicach tego
przecięcia fazy fal promieniowanych
przez głośnik i otwór zbliżają się
do siebie – przy częstotliwości rezo-
nansowej przesunięcie wynosiło 90 o ,
wraz ze wzrostem częstotliwości dalej
się zmniejsza. Oznacza to, że głośnik
i otwór efektywnie współpracują.
Właśnie w tym zakresie, a nie przy
częstotliwości rezonansowej obudowy,
najczęściej występuje wzmocnienie
charakterystyki wypadkowej. Wraz
z dalszym wzrostem częstotliwości
głośnik przejmuje główną rolę, i cha-
rakterystyka wypadkowa zbliża się do
jego własnej charakterystyki.
Takie są podstawowe fakty doty-
czące działania głośnika w obudowie
z otworem. Opisane zjawiska będą
zachodziły zarówno przy układach
dostrojonych prawidłowo, jak i nie-
prawidłowo. Na czym ma więc pole-
gać dostrojenie prawidłowe?
a)
b)
Rys. 43. Charakterystyki przetwarzania układu bas-refleks a) w sprzężeniu
z charakterystyką przesunięcia fazowego między promieniowaniem głośnika
a otworu b)
Recepty wczorajsze i dzisiejsze
Najdawniejsza recepta, jeszcze
z epoki przed Thielem-Smallem, su-
gerowała dostrojenie obudowy bas-re-
leks do częstotliwości rezonansowej
głośnika swobodnie zawieszonego
(f s ), co miało przynosić największą
korzyść z efektu odciążenia głośnika
od dużych amplitud w tym zakresie.
Jednak przy częstotliwości rezonanso-
wej głośnik wcale nie musi osiągać
największej amplitudy – zwykle wcale
nie maleje ona poniżej częstotliwości
rezonansowej, a nawet jeszcze wzra-
sta; dokładny kształt charakterystyki
wychylenia w funkcji częstotliwości
zależy od dobroci układu rezonan-
sowego głośnika. Reguła ta jednak
przestała obowiązywać wraz z analizą
charakterystyk przetwarzania opartych
już na znajomości parametrów Thiele-
’a-Smalla. Okazało się, że dla najlep-
szego przy danym głośniku strojenia
częstotliwość rezonansowa obudowy
fb wcale nie musi być równa czę-
stotliwości rezonansowej fs głośnika
swobodnie zawieszonego. Wiele kon-
strukcji jeszcze nie wykorzystujących
teorii Thiele’a – Smalla mogło być
poprawnych, ale ich strojenie odby-
wało się głównie metodą prób i błę-
dów. Metoda taka do dzisiaj ma rację
bytu i jest godna polecenia, ale nie
jako jedyna, zwłaszcza na samym po-
czątku prac projektowych, a tym bar-
dziej na etapie wyboru głośnika do
obudowy o mniej-więcej określonej
wielkości; niektóre głośniki ze wzglę-
du na parametry T-S w ogóle nie po-
winny być stosowane w obudowach
bas-releks, o ile chcemy uzyskać
poprawne charakterystyki.
Współczesne „akademickie” meto-
dy projektowania obudów bas-releks
polegają na wyborze jednego z kilku-
nastu (w praktyce popularnych jest
kilka) modeli strojenia, spośród tych,
które są możliwe do zastosowania
dla głośnika o danej wartości Q ts .
Pamiętajmy, że wartość Q ts głośnika
„luzem” powinniśmy skorygować ze
względu na rezystancję szeregową,
jaka pojawi się np. w cewce iltru
dolnoprzepustowego zwrotnicy, czy
okablowaniu, podnosząc wartość Q es ,
a wskutek tego i Q ts , przeciętnie
o kilkanaście procent. Zignorowanie
tego zjawiska przy projektowaniu
obudowy zamkniętej prowadzi tylko
do proporcjonalnego podniesienia
wartości końcowej dobroci układu
Q tc , ale w przypadku obudowy bas-
releks skutki są znacznie poważniej-
sze, następuje „rozstrojenie” układu,
którego efektem może być przede
wszystkim znaczne pogorszenie od-
powiedzi impulsowej.
Q ts parametrem kluczowym
Krytycznym parametrem dla wy-
boru głośnika do konstrukcji bas-re-
leks i następnie dla wyboru sposobu
strojenia jest więc dobroć Q ts . Bez
jej znajomości nie mamy szans na
prawidłowe zaprojektowanie obudowy
z otworem. Wszelkie nawet subiek-
tywnie zadowalające rezultaty uzyska-
ne po omacku będą zapewne dalekie
od najlepszych, jakie z danym głośni-
Elektronika Praktyczna 8/2004
65
32705370.013.png 32705370.001.png 32705370.002.png 32705370.003.png 32705370.004.png 32705370.005.png 32705370.006.png 32705370.007.png 32705370.008.png
K U R S
kiem można by uzyskać korzystając
ze znajomości Q ts . Że metoda nawet
bardzo żmudnych prób i błędów tu-
taj nie pomoże, niech udowodni jed-
no retoryczne pytanie – o ile często-
tliwość rezonansową obudowy można
zmieniać jeszcze dość łatwo, zmienia-
jąc długość tunelu, to kto zdecyduje
się wykonać szereg obudów o róż-
nej objętości? Objętość i wynikająca
z niej podatność również wpływają
na częstotliwość rezonansową obudo-
wy, ale nie o to chodzi – optymalny
sposób strojenia zakłada określoną
objętość obudowy niezależnie od
częstotliwości rezonansowej układu.
Inaczej mówiąc, chociaż obudowy
o najróżniejszych objętościach można
dostroić do tej samej częstotliwości
rezonansowej (mniejszą podatność
można skompensować większą masą
drgającą), to charakterystyki każdej
z nich będą zupełnie inne.
Zbiór teoretycznie prawidłowych
modeli można podzielić na dwie
grupy – zapewniających charaktery-
styki przetwarzania nie wykazujące
podbicia (tzw. płaskie), i dopuszcza-
jących do „kontrolowanych” nierów-
nomierności. Wraz ze „spokojniejszą”
charakterystyką przetwarzania, otrzy-
mujemy zwykle lepsze charakte-
rystyki impulsowe, ale stosowanie
modeli „płaskich” jest możliwe tylko
dla głośników o wartościach Q ts niż-
szych od ok. 0,4 (dokładna granica
jest różna dla różnych modeli stro-
jenia). Następnie modele te płynnie
przechodzą w modele będące ich
rozwinięciami dla głośników o wyż-
szych wartościach Q ts , a uzyskiwana
teraz charakterystyka przetwarzania
zaczyna wykazywać różnego rodzaju
nierównomierności. Wraz ze wzro-
stem Q ts , jesteśmy skazani na coraz
większe nierównomierności, i na
coraz gorsze odpowiedzi impulso-
we. Chociaż teoretyczne modele nie
ograniczają nam możliwości zapro-
jektowania bas-releksu z głośnikiem
o niemal dowolnie wysokiej wartości
Q ts , to w praktyce warto przestrzegać
następujących reguł:
– jeżeli naszym priorytetem są wła-
ściwości impulsowe, a nie rozcią-
gnięcie charakterystyki przetwarza-
nia, stosujmy głośniki o wartości
Q ts nie wyższej od 0,3,
– jeżeli zadowalają nas relatywnie
dobre charakterystyki impulsowe,
stosujmy głośniki o wartości Q ts
nie wyższej od. 0,4,
– decydując się na głośniki o war-
tości Q ts większej od 0,4, musimy
być przygotowani na kompromisy
w dziedzinie charakterystyk im-
pulsowych, ale do wartości 0,5 są
one akceptowalne pod warunkiem
starannego dostrojenia obudowy.
Należy podkreślić, że wybór gło-
śnika o niskim Q ts jest pierwszym,
ale nie jedynym warunkiem uzyska-
nia dobrych charakterystyk impulso-
wych. Stosując głośnik z niskim Q ts
w niewłaściwy sposób narażamy się
na gorsze charakterystyki, niż z gło-
śnikiem o wyższym Q ts , ale w umie-
jętnie dostrojonej obudowie.
Ponadto, niestety coś za coś – tak
jak w przypadku obudów zamknię-
tych, również w bas-releksach wyż-
sze wartości Q ts ułatwiają osiąganie
niższych częstotliwości granicznych
na charakterystykach przetwarzania,
bowiem i tutaj o „rozciągnięciu” cha-
rakterystyki decyduje współczynnik
EBP, czyli iloraz częstotliwości re-
zonansowej f s i dobroci Q ts . Głośnik
doskonały do bas-releksu zarówno
pod względem możliwości uzyskania
najlepszych charakterystyk impulso-
wych, jak i przetwarzania, powinien
mieć małą wartość Q ts , ale wraz
z tym bardzo niską częstotliwość
rezonansową, tak aby współczynnik
EBP nie był wyższy od 100. Z dru-
giej strony, dla głośników o współ-
czynniku EBP wyższym od 100,
obudowa bas-releks jest w zasadzie
jedynym sensownym sposobem zasto-
sowania, gdyż w obudowie zamknię-
tej ich bas będzie jeszcze słabszy.
Stąd też wskazywanie, że głośniki
o współczynniku EBP wyższym od
100 dedykowane są do bas-releksów
nie oznacza automatycznie, że takie
właśnie są do bas-releksów lepsze
niż te, które mają EBP np. o warto-
ści 50 – chodzi tylko o to, że przy
wysokim EBP bas-releks jest ratun-
kiem dla charakterystyki przetwarza-
nia – o ile zależy nam na możliwie
niskiej częstotliwości granicznej.
Z kolei głośnik o współczynniku
EBP = 50 i dobroci Q ts =0,3 oznacza
natychmiast, że jego częstotliwość
rezonansowa f s musi wynosić 15 Hz
– możemy sobie takiego głośnika
życzyć, ale spotkać go nie będzie
łatwo. A nawet jeżeli się zdarzy,
warto od razu sprawdzić inne jego
parametry – czy efektywność nie jest
śmiesznie niska, albo wychylenie li-
niowe powodujące, że już ułamek
mocy znamionowej spowoduje jego
przesterowanie przy najniższych czę-
stotliwościach...
Andrzej Kisiel
66
Elektronika Praktyczna 8/2004
32705370.009.png
Zgłoś jeśli naruszono regulamin