tester EPROM-ów.pdf

M I N I P R O J E K T Y

Wspólną cechą układów opisywanych w dziale "Miniprojekty" jest łatwość ich praktycznej

realizacji. Na zmontowanie i uruchomienie układu wystarcza zwykle kwadrans. Mogą to być

układy stosunkowo skomplikowane funkcjonalnie, niemniej proste w montażu i uruchamianiu, gdyż

ich złożoność i inteligencja jest zawarta w układach scalonych. Wszystkie projekty opisywane w

tej rubryce są wykonywane i badane w laboratorium AVT. Większość z nich wchodzi do oferty

kitów AVT jako wyodrębniona seria “Miniprojekty” o numeracji zaczynającej się od 1000.

Tester EPROM−ów PamiÍci EPROM,

w†porÛwnaniu z†pamiÍ-

ciami EEPROM, posia-

daj¹ obecnie juø tylko

dwie zalety: nisk¹ cenÍ

zakupu i†powszechn¹

dostÍpnoúÊ. W†uøyciu

s¹ doúÊ k³opotliwe,

a†szczegÛlnie nie-

wygodne jest ich

kasowanie. Powo-

duje to, øe w†na-

szych szufla-

dach gromadz¹

siÍ nieraz pokaüne

zapasy zaprogramowa-

nych i†nie skasowanych

pamiÍci, przemieszane z†ele-

mentami gotowymi do na-

tychmiastowego, powtÛrnego

zaprogramowania. Propono-

wany tester powinien dopo-

mÛc w†uporz¹dkowaniu tego

ba³aganu i†umoøliwiÊ szybkie

posegregowanie posiadanych

EPROM-Ûw.

utrzy-

muj¹cy siÍ

przez chwilÍ na

kondensatorze C4, po-

woduje wyzerowanie

obydwÛch przerzutnikÛw R-

S i†wszystkich licznikÛw

wchodz¹cych w†sk³ad uk³a-

du. Po wyst¹pienie stanu

niskiego na wejúciu RST

licznika - generatora 4060,

rozpoczyna on pracÍ i†na

wejúcia adresowe pamiÍci

EPROM, umieszczonej

w†podstawce CON1, poda-

wane s¹ kolejne liczby bi-

narne. Po przepe³nieniu

licznika IC3 rozpoczynaj¹

pracÍ po³¹czone z†nim sze-

regowo liczniki IC1A i†IC1B,

aø do momentu pojawienia

siÍ stanu wysokiego na wy-

júciu Q2 licznika IC1B.

WÛwczas nast¹pi ustawienie

przerzutnika R-S zbudowa-

nego na bramkach NOR

IC4A i†IC4B oraz w³¹czenie

zielonej diody zawartej

w†strukturze D1. Jest to syg-

na³, øe przetestowana pa-

miÍÊ nie jest zaprogramowa-

Opis dzia³ania

Schemat elektryczny

uk³adu testera pamiÍci EP-

ROM przedstawiono na rys.

1 . Opis dzia³ania uk³adu

rozpoczniemy od momentu

w³¹czenia zasilania, kiedy to

krÛtkotrwa³y stan wysoki,

Rys. 1.

Elektronika Praktyczna 9/99

Uk³ad, ktÛrego

budowÍ chcia³bym

dzisiaj zaproponowaÊ

Czytelnikom Elektroniki

Praktycznej moøe

w†znacz¹cy sposÛb

u³atwiÊ øycie

konstruktorÛw, ktÛrzy

w†swoich pracach

czÍsto wykorzystuj¹

pamiÍci

reprogramowalne

EPROM. Tester

umoøliwia jednoznaczne

stwierdzenie, czy

badana pamiÍÊ jest

zaprogramowana, czy

teø na jej wyjúciach

danych wystÍpuj¹

wy³¹cznie same ìFFî.

M I N I P R O J E K T Y

Montaø i†uruchomienie

Na rys. 2 pokazano roz-

mieszczenie elementÛw na

p³ytce obwodu drukowane-

go wykonanego na lamina-

cie dwustronnym z†metali-

zacj¹.

Montaø tak prostego

uk³adu nie sprawi z†pew-

noúci¹ nikomu k³opotu, nie

zajmie wiÍcej niø kilkana-

úcie minut, ale przed jego

rozpoczÍciem bÍdziemy mu-

sieli podj¹Ê jedn¹, waøn¹

decyzjÍ. Chodzi tu o†rodzaj

podstawki CON1, jak¹ zasto-

sujemy w†naszym testerze.

WybÛr powinien zaleøeÊ od

liczby pamiÍci EPROM, jak¹

bÍdziemy w†przysz³oúci

sprawdzaÊ. Jeøeli przewidu-

jemy, øe zbudowany tester

bÍdzie bardzo czÍsto wyko-

rzystywany, to warto zasto-

sowaÊ w†uk³adzie podstaw-

kÍ typu ZIF, umoøliwiaj¹c¹

b³yskawiczn¹ wymianÍ

sprawdzanych uk³adÛw. Jed-

nak podstawka taka jest bar-

dzo kosztowna i†jeøeli prze-

widujemy jedynie spora-

dyczne korzystanie z†teste-

ra, to uzasadnione ekono-

WYKAZ ELEMENTÓW

Rezystory

R1, R2, R5: 100k

Ω

R6, R7, R8: 1k

F/10V

C3, C4: 100nF

Półprzewodniki

IC1: 4520

IC2: 4068

IC3: 4060

IC4: 4001

IC5: 4011

D1: LED dwubarwna

Różne

CON2: ARK2 (3,5mm)

Podstawki pod układy

scalone + podstawka

precyzyjna DIP28 jako CON1

P³ytka drukowana wraz z kom-

pletem elementÛw jest dostÍpna

w AVT - oznaczenie AVT-1236.

Urz¹dzenie nie testuje

pamiÍci 2716 i 2732.

Rys. 2.

na i†na wszystkich jej wy-

júciach, pod kaødym adre-

sem, panowa³y stany wyso-

kie.

Rozpatrzmy teraz co siÍ

stanie, jeøeli jednak pamiÍÊ

by³a zaprogramowana i†jeøeli

chociaøby w†jednej z†jej ko-

mÛrek wystÍpuje stan niski.

Zaistnienie takiej sytuacji

spowoduje wyst¹pienie stanu

wysokiego na wyjúciu oúmio-

wejúciowej bramki NAND IC2

i†w†konsekwencji ustawienie

drugiego przerzutnika R-S,

zbudowanego na bramkach

IC4C i†IC4D. Tym razem w³¹-

czona zostanie czerwona sek-

cja diody D1, co wyraünie za-

sygnalizuje, øe pamiÍÊ EP-

ROM jest zaprogramowana

i†wymaga kasowania. Jedno-

czeúnie zablokowana zostanie

bramka IC5A, co uniemoøli-

wi w³¹czenie obydwu diod

LED po skoÒczeniu testowa-

nia pamiÍci.

Tester powinien byÊ zasi-

lany napiÍciem sta³ym stabi-

lizowanym o†wartoúci 5V.

micznie jest zastosowanie

znacznie taÒszej podstawki

precyzyjnej.

Jarosław Tomaszewski

Elektronika Praktyczna 9/99

R4, R3: 220

Kondensatory

C1: 22pF

C2: 220

Plik z chomika:

Inne pliki z tego folderu:

Inne foldery tego chomika: